大類學(xué)科:計(jì)算機(jī)科學(xué) 中科院分區(qū) 2區(qū)
JCR學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC、IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY JCR分區(qū) Q2
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Ieee Transactions On Computational Imaging是計(jì)算機(jī)科學(xué)領(lǐng)域的一本權(quán)威期刊。由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社出版。該期刊主要發(fā)表計(jì)算機(jī)科學(xué)領(lǐng)域的原創(chuàng)性研究成果。創(chuàng)刊于2015年,是計(jì)算機(jī)科學(xué)領(lǐng)域中具有代表性的學(xué)術(shù)刊物。該期刊主要刊載Mathematics-Computational Mathematics及其基礎(chǔ)研究的前瞻性、原始性、首創(chuàng)性研究成果、科技成就和進(jìn)展。該期刊不僅收錄了該領(lǐng)域的科技成就和進(jìn)展,更以其深厚的學(xué)術(shù)積淀和卓越的審稿標(biāo)準(zhǔn),確保每篇文章都具備高度的學(xué)術(shù)價(jià)值。此外,該刊同時(shí)被SCIE數(shù)據(jù)庫收錄,并被劃分為中科院SCI2區(qū)期刊,它始終堅(jiān)持創(chuàng)新,不斷專注于發(fā)布高度有價(jià)值的研究成果,不斷推動(dòng)計(jì)算機(jī)科學(xué)領(lǐng)域的進(jìn)步。
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計(jì)算機(jī)科學(xué) | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學(xué)與照相技術(shù) | 2區(qū) 2區(qū) | 否 | 否 |
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計(jì)算機(jī)科學(xué) | 2區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學(xué)與照相技術(shù) | 2區(qū) 2區(qū) | 否 | 否 |
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計(jì)算機(jī)科學(xué) | 3區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學(xué)與照相技術(shù) | 3區(qū) 3區(qū) | 否 | 否 |
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計(jì)算機(jī)科學(xué) | 3區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學(xué)與照相技術(shù) | 3區(qū) 3區(qū) | 否 | 否 |
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計(jì)算機(jī)科學(xué) | 2區(qū) | IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學(xué)與照相技術(shù) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 | 2區(qū) 3區(qū) | 否 | 否 |
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 89 / 352 |
74.9% |
學(xué)科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q2 | 10 / 36 |
73.6% |
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 97 / 354 |
72.74% |
學(xué)科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q2 | 10 / 36 |
73.61% |
學(xué)科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
大類:Mathematics 小類:Computational Mathematics | Q1 | 10 / 189 |
94% |
大類:Mathematics 小類:Signal Processing | Q1 | 25 / 131 |
81% |
大類:Mathematics 小類:Computer Science Applications | Q1 | 157 / 817 |
80% |
年份 | 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
年發(fā)文量 | 0 | 0 | 0 | 0 | 53 | 51 | 127 | 108 | 96 | 91 |
國家/地區(qū) | 數(shù)量 |
USA | 102 |
CHINA MAINLAND | 59 |
France | 24 |
Australia | 11 |
Netherlands | 11 |
Singapore | 10 |
England | 9 |
GERMANY (FED REP GER) | 8 |
India | 8 |
Scotland | 8 |
機(jī)構(gòu) | 數(shù)量 |
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) | 13 |
PURDUE UNIVERSITY SYSTEM | 12 |
UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM | 11 |
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 10 |
BEIJING INSTITUTE OF TECHNOLOGY | 7 |
UNIVERSITY OF DELAWARE | 7 |
UNIVERSITY OF MICHIGAN SYSTEM | 7 |
HERIOT WATT UNIVERSITY | 6 |
INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM) | 6 |
RENSSELAER POLYTECHNIC INSTITUTE | 6 |
文章名稱 | 引用次數(shù) |
Multi-Exposure Image Fusion by Optimizing A Structural Similarity Index | 27 |
Convolutional Dictionary Learning: A Comparative Review and New Algorithms | 20 |
An Online Plug-and-Play Algorithm for Regularized Image Reconstruction | 16 |
Regularization by Denoising: Clarifications and New Interpretations | 14 |
SEAGLE: Sparsity-Driven Image Reconstruction Under Multiple Scattering | 14 |
A Parametric Level set Method for Imaging Multiphase Conductivity Using Electrical Impedance Tomography | 13 |
Depth Estimation From a Single Image Using Deep Learned Phase Coded Mask | 13 |
Convolutional Neural Networks for Noniterative Reconstruction of Compressively Sensed Images | 12 |
Physics-Based Learned Design: Optimized Coded-Illumination for Quantitative Phase Imaging | 12 |
Blind Image Watermark Detection Algorithm Based on Discrete Shearlet Transform Using Statistical Decision Theory | 12 |
SCIE
影響因子 3.7
CiteScore 6.4
SCIE
影響因子 4.5
CiteScore 10
SCIE
影響因子 3.8
CiteScore 6.7
SCIE
影響因子 5.3
CiteScore 9.3
SCIE
影響因子 1.7
CiteScore 3.4
SCIE
CiteScore 5.6
SCIE
影響因子 7.7
CiteScore 20.9
SCIE
影響因子 3.9
CiteScore 7.3
SCIE
影響因子 5.3
CiteScore 10.3
SCIE
影響因子 3
CiteScore 7.7
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