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Ieee Journal Of The Electron Devices Society
人氣:34

Ieee Journal Of The Electron Devices Society SCIE

  • ISSN:2168-6734
  • 出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
  • 出版語言:English
  • E-ISSN:2168-6734
  • 出版地區:UNITED STATES
  • 是否預警:
  • 創刊時間:2013
  • 出版周期:1 issue/year
  • TOP期刊:
  • 影響因子:2
  • 是否OA:開放
  • CiteScore:5.2
  • H-index:23
  • 研究類文章占比:98.91%
  • Gold OA文章占比:97.60%
  • 文章自引率:0.0434...
  • 開源占比:0.9789
  • OA被引用占比:1
  • 出版國人文章占比:0.21
  • 出版修正文章占比:0.0101...
  • 國際標準簡稱:IEEE J ELECTRON DEVI
  • 涉及的研究方向:Biochemistry, Genetics and Molecular Biology-Biotechnology
  • 中文名稱:IEEE電子器件學會雜志
  • 預計審稿周期: 9 Weeks
國內分區信息:

大類學科:工程技術  中科院分區  3區

國際分區信息:

JCR學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC  JCR分區  Q3

  • 影響因子:2
  • Gold OA文章占比:97.60%
  • OA被引用占比:1
  • CiteScore:5.2
  • 研究類文章占比:98.91%
  • 開源占比:0.9789
  • 文章自引率:0.0434...
  • 出版國人文章占比:0.21

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Ieee Journal Of The Electron Devices Society 期刊簡介

Ieee Journal Of The Electron Devices Society是工程技術領域的一本優秀期刊。由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社出版。該期刊主要發表工程技術領域的原創性研究成果。創刊于2013年,該期刊主要刊載Biochemistry, Genetics and Molecular Biology-Biotechnology及其基礎研究的前瞻性、原始性、首創性研究成果、科技成就和進展。該期刊不僅收錄了該領域的科技成就和進展,更以其深厚的學術積淀和卓越的審稿標準,確保每篇文章都具備高度的學術價值。此外,該刊同時被SCIE數據庫收錄,并被劃分為中科院SCI3區期刊,它始終堅持創新,不斷專注于發布高度有價值的研究成果,不斷推動工程技術領域的進步。

同時,我們注重來稿文章表述的清晰度,以及其與我們的讀者群體和研究領域的相關性。為此,我們期待所有投稿的文章能夠保持簡潔明了、組織有序、表述清晰。該期刊平均審稿速度為平均 9 Weeks 。若您對于稿件是否適合該期刊存在疑慮,建議您在提交前主動與期刊主編取得聯系,或咨詢本站的客服老師。我們的客服老師將根據您的研究內容和方向,為您推薦最為合適的期刊,助力您順利投稿,實現學術成果的順利發表。

Ieee Journal Of The Electron Devices Society 期刊國內分區信息

中科院分區 2023年12月升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區
中科院分區 2022年12月升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 3區
中科院分區 2021年12月舊的升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 3區
中科院分區 2021年12月基礎版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 4區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區
中科院分區 2021年12月升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 3區
中科院分區 2020年12月舊的升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 3區 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 3區

Ieee Journal Of The Electron Devices Society 期刊國際分區信息(2023-2024年最新版)

按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 202 / 352

42.8%

按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q3 179 / 354

49.58%

CiteScore指數(2024年最新版)

  • CiteScore:5.2
  • SJR:0.505
  • SNIP:0.955
學科類別 分區 排名 百分位
大類:Materials Science 小類:Electronic, Optical and Magnetic Materials Q2 90 / 284

68%

大類:Materials Science 小類:Electrical and Electronic Engineering Q2 253 / 797

68%

大類:Materials Science 小類:Biotechnology Q2 139 / 311

55%

期刊評價數據趨勢圖

中科院分區趨勢圖
期刊影響因子和自引率趨勢圖

發文統計

年發文量統計
年份 2014 2015 2016 2017 2018 2019 2020 2021 2022 2023
年發文量 0 0 69 110 169 188 198 180 144 92
國家/地區發文量統計
國家/地區 數量
CHINA MAINLAND 168
USA 99
Taiwan 98
South Korea 74
Japan 61
India 40
France 29
GERMANY (FED REP GER) 27
Switzerland 23
Belgium 20
機構發文量統計
機構 數量
NATIONAL YANG MING CHIAO TUNG UNIVERSITY 35
INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM) 22
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES 20
ECOLE POLYTECHNIQUE FEDERALE DE LAUSANNE 18
NATIONAL TSING HUA UNIVERSITY 17
UNIVERSITY OF ELECTRONIC SCIENCE & TECHNOLOGY OF CHINA 17
NATIONAL CHENG KUNG UNIVERSITY 15
SEOUL NATIONAL UNIVERSITY (SNU) 15
SOUTH CHINA UNIVERSITY OF TECHNOLOGY 15
PEKING UNIVERSITY 14

高引用文章

文章名稱 引用次數
FinFET Versus Gate-All-Around Nanowire FET: Performance, Scaling, and Variability 21
Characterization and Compact Modeling of Nanometer CMOS Transistors at Deep-Cryogenic Temperatures 19
Characterization and Modeling of 28-nm Bulk CMOS Technology Down to 4.2 K 14
Cryogenic Temperature Characterization of a 28-nm FD-SOI Dedicated Structure for Advanced CMOS and Quantum Technologies Co-Integration 11
Hysteresis Reduction in Negative Capacitance Ge PFETs Enabled by Modulating Ferroelectric Properties in HfZrOx 11
Tunneling Transistors Based on MoS2/MoTe2 Van der Waals Heterostructures 11
Direct Correlation of Ferroelectric Properties and Memory Characteristics in Ferroelectric Tunnel Junctions 10
Ferroelectric HfO2 Tunnel Junction Memory With High TER and Multi-Level Operation Featuring Metal Replacement Process 10
Development and Fabrication of AlGaInP-Based Flip-Chip Micro-LEDs 10
Experimental Investigations of State-of-the-Art 650-V Class Power MOSFETs for Cryogenic Power Conversion at 77K 10

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