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Microscopy And Microanalysis是工程技術(shù)領(lǐng)域的一本優(yōu)秀期刊。由Cambridge University Press出版社出版。該期刊主要發(fā)表工程技術(shù)領(lǐng)域的原創(chuàng)性研究成果。創(chuàng)刊于1997年,該期刊主要刊載工程技術(shù)-材料科學(xué):綜合及其基礎(chǔ)研究的前瞻性、原始性、首創(chuàng)性研究成果、科技成就和進(jìn)展。該期刊不僅收錄了該領(lǐng)域的科技成就和進(jìn)展,更以其深厚的學(xué)術(shù)積淀和卓越的審稿標(biāo)準(zhǔn),確保每篇文章都具備高度的學(xué)術(shù)價值。此外,該刊同時被SCIE數(shù)據(jù)庫收錄,并被劃分為中科院SCI4區(qū)期刊,它始終堅持創(chuàng)新,不斷專注于發(fā)布高度有價值的研究成果,不斷推動工程技術(shù)領(lǐng)域的進(jìn)步。
同時,我們注重來稿文章表述的清晰度,以及其與我們的讀者群體和研究領(lǐng)域的相關(guān)性。為此,我們期待所有投稿的文章能夠保持簡潔明了、組織有序、表述清晰。該期刊平均審稿速度為平均 一般,3-6周 。若您對于稿件是否適合該期刊存在疑慮,建議您在提交前主動與期刊主編取得聯(lián)系,或咨詢本站的客服老師。我們的客服老師將根據(jù)您的研究內(nèi)容和方向,為您推薦最為合適的期刊,助力您順利投稿,實現(xiàn)學(xué)術(shù)成果的順利發(fā)表。
大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術(shù) | 4區(qū) | MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學(xué):綜合 MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術(shù) | 4區(qū) | MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學(xué):綜合 | 3區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術(shù) | 4區(qū) | MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學(xué):綜合 MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術(shù) | 3區(qū) | MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學(xué):綜合 MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) | 4區(qū) 2區(qū) | 否 | 否 |
大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術(shù) | 4區(qū) | MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學(xué):綜合 MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術(shù) | 3區(qū) | MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY 材料科學(xué):綜合 | 2區(qū) 3區(qū) | 否 | 否 |
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學(xué)科:MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY | SCIE | Q3 | 220 / 438 |
49.9% |
學(xué)科:MICROSCOPY | SCIE | Q1 | 1 / 8 |
93.8% |
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學(xué)科:MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY | SCIE | Q2 | 197 / 438 |
55.14% |
學(xué)科:MICROSCOPY | SCIE | Q4 | 7 / 8 |
18.75% |
學(xué)科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
大類:Physics and Astronomy 小類:Instrumentation | Q4 | 124 / 141 |
12% |
年份 | 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
年發(fā)文量 | 206 | 165 | 138 | 123 | 79 | 158 | 126 | 156 | 154 | 184 |
國家/地區(qū) | 數(shù)量 |
USA | 94 |
CHINA MAINLAND | 48 |
GERMANY (FED REP GER) | 43 |
England | 29 |
India | 25 |
Australia | 22 |
Egypt | 21 |
France | 16 |
Japan | 16 |
Netherlands | 16 |
機構(gòu) | 數(shù)量 |
ASSIUT UNIVERSITY | 17 |
UNITED STATES DEPARTMENT OF ENERGY (DOE) | 17 |
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) | 12 |
UNIVERSITY OF BELGRADE | 12 |
HELMHOLTZ ASSOCIATION | 10 |
UNIVERSITY OF OXFORD | 10 |
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 9 |
MAX PLANCK SOCIETY | 8 |
MCGILL UNIVERSITY | 8 |
NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS & TECHNOLOGY (NIST) - USA | 8 |
文章名稱 | 引用次數(shù) |
Four-Dimensional Scanning Transmission Electron Microscopy (4D-STEM): From Scanning Nanodiffraction to Ptychography and Beyond | 39 |
High Throughput Quantitative Metallography for Complex Microstructures Using Deep Learning: A Case Study in Ultrahigh Carbon Steel | 18 |
Identification of Medicinally Used Flora Using Pollen Features Imaged in the Scanning Electron Microscopy in the Lower Margalla Hills Islamabad Pakistan | 13 |
Extracting Grain Orientations from EBSD Patterns of Polycrystalline Materials Using Convolutional Neural Networks | 10 |
Fabrication of Atom Probe Tomography Specimens from Nanoparticles Using a Fusible Bi-In-Sn Alloy as an Embedding Medium | 8 |
Atom Probe Tomography Interlaboratory Study on Clustering Analysis in Experimental Data Using the Maximum Separation Distance Approach | 7 |
Quantification Challenges for Atom Probe Tomography of Hydrogen and Deuterium in Zircaloy-4 | 7 |
Evaluation and Microanalysis of Parasitic and Bacterial Agents of Egyptian Fresh Sushi, Salmo salar | 7 |
Description of Ore Particles from X-Ray Microtomography (XMT) Images, Supported by Scanning Electron Microscope (SEM)-Based Image Analysis | 7 |
An Automated Computational Approach for Complete In-Plane Compositional Interface Analysis by Atom Probe Tomography | 6 |
SCIE
影響因子 1.5
CiteScore 2.8
SCIE
影響因子 1.5
CiteScore 3.6
SCIE
CiteScore 8.9
SCIE
影響因子 0.5
CiteScore 1.8
SCIE
影響因子 2.2
CiteScore 6.5
SCIE
影響因子 0.4
CiteScore 2.2
SCIE SSCI
影響因子 4.1
CiteScore 7.1
SCIE SSCI
影響因子 0.9
CiteScore 1.5
SCIE SSCI
影響因子 12.5
CiteScore 22.1
SCIE
影響因子 4.5
CiteScore 8.1
若用戶需要出版服務(wù),請聯(lián)系出版商:CAMBRIDGE UNIV PRESS, 32 AVENUE OF THE AMERICAS, NEW YORK, USA, NY, 10013-2473。