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Journal Of Infrared Millimeter And Terahertz Waves是工程技術領域的一本優秀期刊。由Springer US出版社出版。該期刊主要發表工程技術領域的原創性研究成果。創刊于1980年，該期刊主要刊載工程技術-工程：電子與電氣及其基礎研究的前瞻性、原始性、首創性研究成果、科技成就和進展。該期刊不僅收錄了該領域的科技成就和進展，更以其深厚的學術積淀和卓越的審稿標準，確保每篇文章都具備高度的學術價值。此外，該刊同時被SCIE數據庫收錄，并被劃分為中科院SCI3區期刊，它始終堅持創新，不斷專注于發布高度有價值的研究成果，不斷推動工程技術領域的進步。
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| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 3區 | OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 3區 3區 4區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 3區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 3區 3區 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 3區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 3區 3區 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 4區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 4區 4區 4區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 3區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 3區 3區 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 3區 | OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 3區 3區 4區 | 否 | 否 |
| 按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 222 / 352 |
37.1% |
| 學科：OPTICS | SCIE | Q3 | 68 / 119 |
43.3% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 120 / 179 |
33.2% |
| 按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 168 / 354 |
52.68% |
| 學科：OPTICS | SCIE | Q3 | 63 / 120 |
47.92% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 83 / 179 |
53.91% |
| 學科類別 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Radiation | Q1 | 9 / 58 |
85% |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Condensed Matter Physics | Q1 | 99 / 434 |
77% |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Electrical and Electronic Engineering | Q2 | 201 / 797 |
74% |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Instrumentation | Q2 | 36 / 141 |
74% |
| 年份 | 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
| 年發文量 | 82 | 94 | 104 | 123 | 103 | 91 | 114 | 70 | 65 | 59 |
| 國家/地區 | 數量 |
| CHINA MAINLAND | 66 |
| Japan | 53 |
| Russia | 47 |
| GERMANY (FED REP GER) | 45 |
| USA | 44 |
| France | 19 |
| England | 14 |
| India | 12 |
| Italy | 11 |
| Spain | 8 |
| 機構 | 數量 |
| RUSSIAN ACADEMY OF SCIENCES | 41 |
| INSTITUTE OF APPLIED PHYSICS OF THE RUSSIAN ACADEMY OF SCIENCES | 21 |
| UNIVERSITY OF FUKUI | 17 |
| CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) | 13 |
| UNIVERSITY OF ELECTRONIC SCIENCE & TECHNOLOGY OF CHINA | 13 |
| CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 12 |
| PHILIPPS UNIVERSITY MARBURG | 9 |
| LOBACHEVSKY STATE UNIVERSITY OF NIZHNI NOVGOROD | 8 |
| LOMONOSOV MOSCOW STATE UNIVERSITY | 8 |
| FRAUNHOFER GESELLSCHAFT | 7 |
| 文章名稱 | 引用次數 |
| Temperature-Dependent Refractive Index of Quartz at Terahertz Frequencies | 10 |
| Frequency Limitations of Resonant-Tunnelling Diodes in Sub-THz and THz Oscillators and Detectors | 9 |
| Electrically Tunable Reflective Terahertz Phase Shifter Based on Liquid Crystal | 9 |
| Thin-Film Sensing via Fano Resonance Excitation in Symmetric Terahertz Metamaterials | 9 |
| Ultra-fast, High-Bandwidth Coherent cw THz Spectrometer for Non-destructive Testing | 8 |
| 1550-nm Driven ErAs:In(Al)GaAs Photoconductor-Based Terahertz Time Domain System with 6.5 THz Bandwidth | 8 |
| Terahertz Diffractive Optics-Smart Control over Radiation | 8 |
| A Millimetre-Wave Cuboid Solid Immersion Lens with Intensity-Enhanced Amplitude Mask Apodization | 7 |
| Tunable Plasmonic Properties and Absorption Enhancement in Terahertz Photoconductive Antenna Based on Optimized Plasmonic Nanostructures | 7 |
| Dielectric Properties of Low-Loss Polymers for mmW and THz Applications | 6 |
SCIE
影響因子 1.5
CiteScore 2.8
SCIE
影響因子 1.5
CiteScore 3.6
SCIE
CiteScore 8.9
SCIE
影響因子 0.5
CiteScore 1.8
SCIE
影響因子 2.2
CiteScore 6.5
SCIE
影響因子 0.4
CiteScore 2.2
SCIE SSCI
影響因子 4.1
CiteScore 7.1
SCIE SSCI
影響因子 0.9
CiteScore 1.5
SCIE SSCI
影響因子 12.5
CiteScore 22.1
SCIE
影響因子 4.5
CiteScore 8.1
若用戶需要出版服務，請聯系出版商：SPRINGER, 233 SPRING ST, NEW YORK, USA, NY, 10013。