推薦合適期刊 投稿指導(dǎo) 助力快速見(jiàn)刊免費(fèi)咨詢
Microscopy是工程技術(shù)領(lǐng)域的一本優(yōu)秀期刊。由Oxford University Press出版社出版。該期刊主要發(fā)表工程技術(shù)領(lǐng)域的原創(chuàng)性研究成果。創(chuàng)刊于1953年,該期刊主要刊載Physics and Astronomy-Instrumentation及其基礎(chǔ)研究的前瞻性、原始性、首創(chuàng)性研究成果、科技成就和進(jìn)展。該期刊不僅收錄了該領(lǐng)域的科技成就和進(jìn)展,更以其深厚的學(xué)術(shù)積淀和卓越的審稿標(biāo)準(zhǔn),確保每篇文章都具備高度的學(xué)術(shù)價(jià)值。此外,該刊同時(shí)被SCIE數(shù)據(jù)庫(kù)收錄,并被劃分為中科院SCI4區(qū)期刊,它始終堅(jiān)持創(chuàng)新,不斷專注于發(fā)布高度有價(jià)值的研究成果,不斷推動(dòng)工程技術(shù)領(lǐng)域的進(jìn)步。
同時(shí),我們注重來(lái)稿文章表述的清晰度,以及其與我們的讀者群體和研究領(lǐng)域的相關(guān)性。為此,我們期待所有投稿的文章能夠保持簡(jiǎn)潔明了、組織有序、表述清晰。該期刊平均審稿速度為平均 。若您對(duì)于稿件是否適合該期刊存在疑慮,建議您在提交前主動(dòng)與期刊主編取得聯(lián)系,或咨詢本站的客服老師。我們的客服老師將根據(jù)您的研究?jī)?nèi)容和方向,為您推薦最為合適的期刊,助力您順利投稿,實(shí)現(xiàn)學(xué)術(shù)成果的順利發(fā)表。
大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術(shù) | 4區(qū) | MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) | 4區(qū) | 否 | 否 |
大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術(shù) | 4區(qū) | MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) | 4區(qū) | 否 | 否 |
大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術(shù) | 4區(qū) | MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) | 4區(qū) | 否 | 否 |
大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術(shù) | 4區(qū) | MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) | 4區(qū) | 否 | 否 |
大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術(shù) | 4區(qū) | MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) | 4區(qū) | 否 | 否 |
大類學(xué)科 | 分區(qū) | 小類學(xué)科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術(shù) | 4區(qū) | MICROSCOPY 顯微鏡技術(shù) | 4區(qū) | 否 | 否 |
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學(xué)科:MICROSCOPY | SCIE | Q3 | 6 / 8 |
31.3% |
按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
學(xué)科:MICROSCOPY | SCIE | Q3 | 5 / 8 |
43.75% |
學(xué)科類別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
大類:Medicine 小類:Radiology, Nuclear Medicine and Imaging | Q2 | 159 / 333 |
52% |
大類:Medicine 小類:Instrumentation | Q3 | 75 / 141 |
47% |
大類:Medicine 小類:Structural Biology | Q3 | 34 / 49 |
31% |
年份 | 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
年發(fā)文量 | 53 | 52 | 58 | 48 | 61 | 51 | 46 | 64 | 77 | 50 |
國(guó)家/地區(qū) | 數(shù)量 |
Japan | 123 |
USA | 13 |
GERMANY (FED REP GER) | 10 |
CHINA MAINLAND | 6 |
England | 6 |
Canada | 4 |
Austria | 3 |
Egypt | 3 |
Mexico | 2 |
Pakistan | 2 |
機(jī)構(gòu) | 數(shù)量 |
UNIVERSITY OF TOKYO | 18 |
OSAKA UNIVERSITY | 14 |
RIKEN | 12 |
HITACHI LIMITED | 11 |
JEOL LTD | 10 |
TOHOKU UNIVERSITY | 10 |
KYUSHU UNIVERSITY | 9 |
JAPAN FINE CERAMICS CENTER | 6 |
MAX PLANCK SOCIETY | 6 |
NAGOYA UNIVERSITY | 6 |
文章名稱 | 引用次數(shù) |
Digital holography and its multidimensional imaging applications: a review | 22 |
Evaluation of EELS spectrum imaging data by spectral components and factors from multivariate analysis | 14 |
Attainment of 40.5 pm spatial resolution using 300 kV scanning transmission electron microscope equipped with fifth-order aberration corrector | 9 |
Transfer learning based deep CNN for segmentation and detection of mitoses in breast cancer histopathological images | 8 |
Microstructural observation of casein micelles in milk by cryo-electron microscopy of vitreous sections (CEMOVIS) | 5 |
TI Workbench, an integrated software package for electrophysiology and imaging | 5 |
Live cell imaging of dynamic behaviors of motile cilia and primary cilium | 4 |
Hard X-ray imaging microscopy with self-imaging phenomenon | 4 |
Collection efficiency and acceptance maps of electron detectors for understanding signal detection on modern scanning electron microscopy | 4 |
Peptidoglycan layer and disruption processes in Bacillus subtilis cells visualized using quick-freeze, deep-etch electron microscopy | 3 |
SCIE
影響因子 1.5
CiteScore 2.8
SCIE
影響因子 1.5
CiteScore 3.6
SCIE
CiteScore 8.9
SCIE
影響因子 0.5
CiteScore 1.8
SCIE
影響因子 2.2
CiteScore 6.5
SCIE
影響因子 0.4
CiteScore 2.2
SCIE SSCI
影響因子 4.1
CiteScore 7.1
SCIE SSCI
影響因子 0.9
CiteScore 1.5
SCIE SSCI
影響因子 12.5
CiteScore 22.1
SCIE
影響因子 4.5
CiteScore 8.1
若用戶需要出版服務(wù),請(qǐng)聯(lián)系出版商:GREAT CLARENDON ST, OXFORD, ENGLAND, OX2 6DP。