推薦合適期刊 投稿指導 助力快速見刊免費咨詢
Journal Of Electronic Imaging是計算機科學領域的一本優秀期刊。由SPIE出版社出版。該期刊主要發表計算機科學領域的原創性研究成果。創刊于1992年,該期刊主要刊載工程技術-成像科學與照相技術及其基礎研究的前瞻性、原始性、首創性研究成果、科技成就和進展。該期刊不僅收錄了該領域的科技成就和進展,更以其深厚的學術積淀和卓越的審稿標準,確保每篇文章都具備高度的學術價值。此外,該刊同時被SCIE數據庫收錄,并被劃分為中科院SCI4區期刊,它始終堅持創新,不斷專注于發布高度有價值的研究成果,不斷推動計算機科學領域的進步。
同時,我們注重來稿文章表述的清晰度,以及其與我們的讀者群體和研究領域的相關性。為此,我們期待所有投稿的文章能夠保持簡潔明了、組織有序、表述清晰。該期刊平均審稿速度為平均 約4.0個月 。若您對于稿件是否適合該期刊存在疑慮,建議您在提交前主動與期刊主編取得聯系,或咨詢本站的客服老師。我們的客服老師將根據您的研究內容和方向,為您推薦最為合適的期刊,助力您順利投稿,實現學術成果的順利發表。
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
計算機科學 | 4區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 | 4區 4區 4區 | 否 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
計算機科學 | 4區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 | 4區 4區 4區 | 否 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
計算機科學 | 4區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 | 4區 4區 4區 | 否 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
工程技術 | 4區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 | 4區 4區 4區 | 否 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
計算機科學 | 4區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 | 4區 4區 4區 | 否 | 否 |
大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
計算機科學 | 4區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 | 4區 4區 4區 | 否 | 否 |
按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 285 / 352 |
19.2% |
學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 31 / 36 |
15.3% |
學科:OPTICS | SCIE | Q4 | 99 / 119 |
17.2% |
按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 289 / 354 |
18.5% |
學科:IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 31 / 36 |
15.28% |
學科:OPTICS | SCIE | Q4 | 104 / 120 |
13.75% |
學科類別 | 分區 | 排名 | 百分位 |
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering | Q3 | 540 / 797 |
32% |
大類:Engineering 小類:Atomic and Molecular Physics, and Optics | Q3 | 167 / 224 |
25% |
大類:Engineering 小類:Computer Science Applications | Q3 | 610 / 817 |
25% |
年份 | 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
年發文量 | 168 | 190 | 186 | 224 | 302 | 227 | 147 | 203 | 358 | 316 |
文章名稱 | 引用次數 |
Image privacy scheme using quantum spinning and rotation | 13 |
Defogging of road images using gain coefficient-based trilateral filter | 10 |
SWCD: a sliding window and self-regulated learning-based background updating method for change detection in videos | 10 |
Single image dehazing using a multilayer perceptron | 10 |
Optimized fuzzy cellular automata for synthetic aperture radar image edge detection | 9 |
Infrared and visible image fusion based on convolutional neural network model and saliency detection via hybrid l(0)-l(1) layer decomposition | 8 |
Image segmentation via multilevel thresholding using hybrid optimization algorithms | 8 |
Joint classification of multiresolution representations with discrimination analysis for SAR ATR | 7 |
Improved opponent color local binary patterns: an effective local image descriptor for color texture classification | 6 |
Combining background subtraction algorithms with convolutional neural network | 6 |
SCIE
影響因子 3.7
CiteScore 6.4
SCIE
影響因子 4.5
CiteScore 10
SCIE
影響因子 3.8
CiteScore 6.7
SCIE
影響因子 5.3
CiteScore 9.3
SCIE
影響因子 1.7
CiteScore 3.4
SCIE
CiteScore 5.6
SCIE
影響因子 7.7
CiteScore 20.9
SCIE
影響因子 3.9
CiteScore 7.3
SCIE
影響因子 5.3
CiteScore 10.3
SCIE
影響因子 3
CiteScore 7.7
若用戶需要出版服務,請聯系出版商:I S & T - SOC IMAGING SCIENCE TECHNOLOGY, 7003 KILWORTH LANE, SPRINGFIELD, USA, VA, 22151。